各有关单位：
为了满足广大元器件生产厂及电子整机单位对产品可靠性的要求,提高产品质量,增强市场竞争能力。中国电子质量协会将举办由工程实践和教学经验丰富的教师主讲的“关于电子元器件失效性分析技术高级研修班”。通过讲解大量失效分析案件,使学员在较短时间内掌握失效分析机理及失效分析技术。具体安排如下:
一、主办单位:中国电子质量管理协会
二、培训时间及地点：2006年5月20----21日 成 都
2006年6月03—04日 厦 门
2006年6月17—18日 南 京
三、培训证书: 中国电子质量管理协会培训证书:
四、培训对象: 系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、质量可靠性管理和失效分析工程师。
五、课程提纲
第一部分 电子元器件失效分析技术
1. 失效分析的基本概念和一般程序
2. 以失效分析为目标的电测技术
3. 无损失效分析技术
4. 电子元器件的开封和制样技术
5. 显微形貌像技术
6. 电子束测试失效定位技术
7. 光发射显微失效定位技术
8. 红外热像技术
9. 聚焦离子束技术
10. 微区化学成分分析
第二部分 电子元器件的主要失效机理和失效分析技术
1. 过电应力 (EOS) 损伤
2. 静电放电（EOS）损伤
3. 闩锁效应
4. 引线键合失效
5. 封装失效
6. 介质失效
7. 金属电迁移
8. 金属电化学腐蚀
9. 金属—半导体接触退化
10. 功率半导体器件的热疲劳失效
第三部分 失效分析案例
1. 塑封功率器件的引线键合失效
2. 塑封微处理器的“爆米花效应”
3. EPROM的“闩锁效应”
4. FPGA的过电应力损伤
5. EEPROM的钠离子玷污
6. 手机电路板焊接失效
7. 彩电受潮失效
8. ispSI的静电放电损伤
9. ispSI的过电应力损伤
10. 静态存储器的介质层失效
六、授课教师
费庆宇 1982年起在中国电子产品可靠性与环境实验研究所(现名:信息产业部电子五所)工作,现任高级工程师。长期从事半导体器件(包括集成电路和GaAs微波器件等)的失效机理和失效分析技术研究。分别于1989年、1992-1993年、2001年由联合国、国家教委和中国国家留学基金委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。曾多次应邀外出讲学,曾多次主持重大课题研究,他主持的《VLSI失效分析技术》课题荣获2003年度国防科技二等奖。
注:中国电子质量协会将应广大可靠性工作者的要求,随时开办相关技术培训及定向的企业内训,敬请广大学员提出需求及关注内容。
七、授课方法:授课、答疑、交流。
八、收费标准:1800元/人,3-5人九折优惠,6人以上八折优惠。会议期间食宿费用自理。
本次会议由北京国人技术培训中心承办
会务联系人：肖 燕 电 话：010-58895752
传 真：010-58895707 E-mail：lnj0000@126.com或 peixun5430@163.com
网 址：www.grpx.net
中电质协联系人：秦立东 电话：010-64052132 84029253
传真：010-84029127 E-mail：cqae@cqae.com
中国电子质量管理协会
报名回执表
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